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--公司新闻 |
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| 解决污闪问题主要是重新认识污秽绝缘设计 |
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| 3．1 按爬电比距确定绝缘子串片数所存在的问题目前，各国均按污秽水平划分污级，并规定各污级对应的爬电比距，仅前苏联和我国按爬电比距的方法确定绝缘子串片数。前苏联与我国的设计又不同，不仅系统地考虑了爬电比距有效系数（一般取1．1－1．2），还规定了不同污秽等级下50%人工污秽耐受电压值，即220 kV及以下电压等级为对应额定电压值，330 kV和500 kV分别规定为315 kV和410 kV，仅按GB/T16434－1996来进行外绝缘设计，与前苏联相比无疑偏低。美国、日本和我国武汉高压研究所等主要是以污耐压进行外绝缘设计，污耐压皆以长串真型试验来确定。不同国家污秽绝缘设计原则相同，仅是设计参数取值不同。由文献[1]知，绝缘子串片数N为污秽设计目标电压值UΦmax与单片绝缘子最大耐受电压Umax的比值，而单片绝缘子最大耐受电压Umax是σ、k的函数，σ、k越大，Umax越小，N越小，反之N越大。σ、k取定值后，按系统重要性考虑的修正系数k1，越大，N越大，即绝缘子串的污秽裕度越大。σ值一般由50%人工污秽耐受电压试验确定。由表1可知，不同国家污秽绝缘设计参数取值不同。σ值不同主要是由不同污秽试验室等价性造成，而k值主要由线路设计闪络概率户值确定。若单串闪络概率户取值偏高，无疑k偏低，Umax偏高；若k1取值偏低，则UΦmax偏低，若p和k1值同时偏低，则N偏低。而我国p、k1取值相对前苏联、美国和日本而言皆偏低，可见N值较小，绝缘子串的绝缘配置偏低，或者说裕度偏小。随着大环境的污染，若污秽等级从I级（0．025 mg/平方厘米）发展到Ⅲ级（0．1 mg/平方厘米），不同型式绝缘子的Umax值下降幅度可达32．2%－44．0%。XP－160型绝缘子长串真型试验结果表明，I级（0．03 mg/平方厘米）Umax值（11．81 kV）相对于Ⅲ级（0．1 mg/平方厘米）Umax值（8．36 kV）下降幅度为29．2%，无疑绝缘子串片数相应会增加31．1%－22．7%或34．2%，受杆塔高度限制，必然无法调爬，应在设计基建时将裕度留给运行部门。建议对单片绝缘子的爬电距离进行爬电比距有效系数修正，规定不同电压等级下的污耐压水平。建议修订GB/T16434－1996时增加单绝缘子串的闪络概率户（户取值0．0135%），K值取3；输电线路绝缘子污秽设计时口值取为7%或由试验数据确定；污秽设计目标电压值UΦmax按系统的重要性考虑的修正系数k1，取1．10－1．3，对重要输电线路k1取1．6，对核电站出线等重要线路k1取1．732；对不同电压等级输电线路应规定绝缘子串最少片数，如500 kV输电线路推荐悬垂串最少片数为30－32片。 |
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